Ultraschallmikroskopie

Die Ultraschallmikroskopie (SAM) ist eine spezielle Variante der Ultraschallprüftechnik mit der Hohlräume, Delaminationen, Blasen, sowie Materialveränderungen in verschiedensten Proben mit hoher lateraler Auflösung nachgewiesen werden können. Die Probe, die sich unter Wasser in einem Tauchbecken befindet, wird dabei zerstörungsfrei und unverändert bis zu einer Größe 40x40cm² gescannt.

Die Ultraschallmikroskopie erstellt mit Hilfe von Schallwellen Bilder mikroskopisch kleiner Bereiche unterschiedlichster Prüfkörper.

Der Vorteil der Akustik-Mikroskopie gegenüber anderen Untersuchungsmethoden liegt hauptsächlich in der Art und Weise, wie der Kontrast erzeugt wird. Der Kontrast wird durch verschiedene physikalische Eigenschaften, wie Dichte und Elastizität, an der Oberfläche und im Innern des jeweiligen Prüfobjektes gewonnen. Die Ultraschallmikroskopie arbeitet auf Basis der Puls-Echo Technik. Hierbei sendet und empfängt ein Prüfkopf (Transducer) kurze akustische Signale mit einer hohen Wiederholungsrate. Diese werden vom Prüfobjekt reflektiert und in Videosignale umgewandelt. Um eine graphische Darstellung zu erhalten, wird der Prüfkopf mit einem Scanner mäander- oder kammförmig über die Probe geführt. Die Intensität und die Phase der reflektierten, empfangenen Signale werden synchronisiert und stufenweise als Grauwerte in einem Bild dargestellt. In nebenstehender Abbildung ist schematisch das Funktionsprinzip der Ultraschallmikroskopie dargestellt.

Wir führen Prüfungen nach folgenden Standards im Rahmen unserer Akkreditierungen durch:
ESA/SCC Basic Specification No 25200, ESCC 25200, J-STD 035, MIL-STD 883G Method 2030

Beispiele für Untersuchungen mit dem Ultraschallmikroskop:

  • Prüfung an Halbleiter-Komponenten nach J-STD-035, ESA/SCC 24200 und MIL-STD 883 auf Delaminationen, Fremdeinschlüsse, Hohlräume und EOS
  • Bewertung der Qualität gelöteter und ultraschallgeschweißter Batterieklemmen / Batteriekabel im Rahmen der Elektromobilität
  • Lokalisierung zeilig angeordneter, nicht-metallischer Einschlüsse in Stahlwerkstoffen
  • Prüfung der spaltfreien Anbindung von Vergussmassen an Leiterplatten und Komponenten in Steuergeräten der Automobilindustrie
  • Charakterisierung der Klebstoffanbindung an keramischen Komponenten

 

Ultraschallmikroskop
Integrierte Schaltung mit ESD-Schaden
Ultraschallmikroskopie zur Bewertung der Qualität von Schweißverbindungen von Batterieklemmen (50 MHz)

Kontakt

SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH
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